8eon

Pseudomonas phage E217 baseplate complex

Method: ELECTRON MICROSCOPY Dmax: 215.5 Å Quality: EXCELLENT

SAXS 散射曲线 SAXS Profile

SAXS profile for 8eon

P(r) 距离分布 P(r) Distribution

P(r) distribution for 8eon
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1. 结构基本信息 1. Structure Basics

条目编号 entry_id8eon
沉积日期 deposition_date2022-10-03
结构标题 titlePseudomonas phage E217 baseplate complex
关键词 keywordsPseudomonas, phage, baseplate, VIRUS; VIRUS
实验方法 methodELECTRON MICROSCOPY

2. SAXS 参数 (CRYSOL 理论计算) 2. SAXS Parameters (CRYSOL)

回转半径 Rg (Guinier) rg_guinier82.84
回转半径 Rg (电子) rg_electron82.51
零角强度 I(0) i025602000000.00
分子量 molecular_weight1359500.0 kDa
排除体积 excluded_volume1699200 ų
包络体积 envelope_volume2987100 ų
水化壳体积 shell_volume290040 ų
包络直径 envelope_diameter283.3
壳层 Rg shell_rg88.96
包络 Rg envelope_rg80.49
形状 Rg shape_rg82.57
总 Rg total_rg82.38
总原子数 total_atoms95688
残基数 n_residues12711
球谐函数阶数 n_harmonics20
q 范围 q_range— – 0.5000 −1
数据点数 n_points101
壳层类型 shell_typedirectional
溶剂电子密度 solvent_density0.3340 e/ų
壳层衬度 contrast_shell0.0300 e/ų
CRYSOL 版本 crysol_version4.1.3

3. P(r) 距离分布 (GNOM 反演) 3. P(r) Analysis (GNOM)

最大尺寸 Dmax dmax215.5
Rg (实空间) rg_real80.13
Rg 误差 (实空间) rg_real_error0.38
I(0) (实空间) i0_real2.4690e+10
I(0) 误差 (实空间) i0_real_error4.1010e+08
Rg (倒空间) rg_reciprocal83.69
I(0) (倒空间) i0_reciprocal25660000000.0000
解质量估计 total_estimate0.9027
解质量评级 solution_quality EXCELLENT a EXCELLENT solution
P(r) 峰数 n_peaks2
主峰位置 r_peak_primary102.1
偏度 Skewness skewness0.152
峰度 Kurtosis kurtosis-0.476
角度范围 angular_range— – 0.0950 −1
当前正则化参数 α current_alpha0.2882
最高正则化参数 α highest_alpha3667000000.0000
实空间数据点数 n_real_points20
GNOM 版本 gnom_version4.1.3
质量判据 quality_criteria AN1: 0.000; Oscil: 0.970; Stabil: 0.981; Sysdev: 1.000; Positv: 1.000; Valcen: 0.942; Smooth: 0.001

4. 晶体学与实验 4. Crystallography & Experiment

5. 实体与聚合体信息 (9)

7. 引用文献 (1)

8. 文件与曲线 (10)