8h5z

Crystal structure of RadD/ATP analogue complex

Method: X-RAY DIFFRACTION Dmax: 186.8 Å Quality: SUSPICIOUS

SAXS 散射曲线 SAXS Profile

SAXS profile for 8h5z

P(r) 距离分布 P(r) Distribution

P(r) distribution for 8h5z
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1. 结构基本信息 1. Structure Basics

条目编号 entry_id8h5z
沉积日期 deposition_date2022-10-14
最后修订 last_revision2023-10-18
结构标题 titleCrystal structure of RadD/ATP analogue complex
关键词 keywordshelicase superfamily 2 DNA repair ATPase, DNA BINDING PROTEIN; DNA BINDING PROTEIN
实验方法 methodX-RAY DIFFRACTION

2. SAXS 参数 (CRYSOL 理论计算) 2. SAXS Parameters (CRYSOL)

回转半径 Rg (Guinier) rg_guinier60.22
回转半径 Rg (电子) rg_electron61.20
零角强度 I(0) i0221994000.00
分子量 molecular_weight122920.0 kDa
排除体积 excluded_volume152950 ų
包络体积 envelope_volume257180 ų
水化壳体积 shell_volume36303 ų
包络直径 envelope_diameter202.0
壳层 Rg shell_rg59.49
包络 Rg envelope_rg58.91
形状 Rg shape_rg61.21
总 Rg total_rg61.12
总原子数 total_atoms8670
残基数 n_residues1114
球谐函数阶数 n_harmonics20
q 范围 q_range— – 0.5000 −1
数据点数 n_points101
壳层类型 shell_typedirectional
溶剂电子密度 solvent_density0.3340 e/ų
壳层衬度 contrast_shell0.0300 e/ų
CRYSOL 版本 crysol_version4.1.3

3. P(r) 距离分布 (GNOM 反演) 3. P(r) Analysis (GNOM)

最大尺寸 Dmax dmax186.8
Rg (实空间) rg_real61.25
Rg 误差 (实空间) rg_real_error2.12
I(0) (实空间) i0_real2.2200e+08
I(0) 误差 (实空间) i0_real_error5.0590e+06
Rg (倒空间) rg_reciprocal59.24
I(0) (倒空间) i0_reciprocal221300000.0000
解质量估计 total_estimate0.3737
解质量评级 solution_quality SUSPICIOUS a SUSPICIOUS solution
P(r) 峰数 n_peaks3
主峰位置 r_peak_primary28.7
偏度 Skewness skewness0.383
峰度 Kurtosis kurtosis-0.996
角度范围 angular_range— – 0.1300 −1
当前正则化参数 α current_alpha0.0000
最高正则化参数 α highest_alpha6274000.0000
实空间数据点数 n_real_points27
GNOM 版本 gnom_version4.1.3
质量判据 quality_criteria AN1: 0.000; Oscil: 0.197; Stabil: 0.999; Sysdev: 0.001; Positv: 1.000; Valcen: 0.255; Smooth: 0.005

4. 晶体学与实验 4. Crystallography & Experiment

5. 实体与聚合体信息 (3)

7. 引用文献 (1)

8. 文件与曲线 (10)