8i4x

Cryo-EM structure of 5-subunit Smc5/6

Method: ELECTRON MICROSCOPY Dmax: 266.5 Å Quality: REASONABLE

SAXS 散射曲线 SAXS Profile

SAXS profile for 8i4x

P(r) 距离分布 P(r) Distribution

P(r) distribution for 8i4x
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1. 结构基本信息 1. Structure Basics

条目编号 entry_id8i4x
沉积日期 deposition_date2023-01-21
结构标题 titleCryo-EM structure of 5-subunit Smc5/6
关键词 keywordsCELL CYCLE; CELL CYCLE
实验方法 methodELECTRON MICROSCOPY

2. SAXS 参数 (CRYSOL 理论计算) 2. SAXS Parameters (CRYSOL)

回转半径 Rg (Guinier) rg_guinier
回转半径 Rg (电子) rg_electron133.50
零角强度 I(0) i01978150000.00
分子量 molecular_weight380310.0 kDa
排除体积 excluded_volume477100 ų
包络体积 envelope_volume1140400 ų
水化壳体积 shell_volume83042 ų
包络直径 envelope_diameter422.7
壳层 Rg shell_rg89.29
包络 Rg envelope_rg127.90
形状 Rg shape_rg133.50
总 Rg total_rg133.30
总原子数 total_atoms26724
残基数 n_residues3299
球谐函数阶数 n_harmonics20
q 范围 q_range— – 0.5000 −1
数据点数 n_points101
壳层类型 shell_typedirectional
溶剂电子密度 solvent_density0.3340 e/ų
壳层衬度 contrast_shell0.0300 e/ų
CRYSOL 版本 crysol_version4.1.3

3. P(r) 距离分布 (GNOM 反演) 3. P(r) Analysis (GNOM)

最大尺寸 Dmax dmax266.5
Rg (实空间) rg_real94.20
Rg 误差 (实空间) rg_real_error1.43
I(0) (实空间) i0_real1.6450e+09
I(0) 误差 (实空间) i0_real_error3.8960e+07
Rg (倒空间) rg_reciprocal93.75
I(0) (倒空间) i0_reciprocal1767000000.0000
解质量估计 total_estimate0.7178
解质量评级 solution_quality REASONABLE a REASONABLE solution
P(r) 峰数 n_peaks1
主峰位置 r_peak_primary44.4
偏度 Skewness skewness0.306
峰度 Kurtosis kurtosis-1.093
角度范围 angular_range— – 0.0600 −1
当前正则化参数 α current_alpha1.3970
最高正则化参数 α highest_alpha43050000.0000
实空间数据点数 n_real_points13
GNOM 版本 gnom_version4.1.3
质量判据 quality_criteria AN1: 0.094; Oscil: 0.673; Stabil: 0.864; Sysdev: 1.000; Positv: 1.000; Valcen: 0.718; Smooth: 0.000

4. 晶体学与实验 4. Crystallography & Experiment

5. 实体与聚合体信息 (5)

7. 引用文献 (1)

8. 文件与曲线 (10)