8ilg

The crystal structure of dG-DNA:Pol X product binary complex

Method: X-RAY DIFFRACTION Dmax: 81.8 Å Quality: REASONABLE

SAXS 散射曲线 SAXS Profile

SAXS profile for 8ilg

P(r) 距离分布 P(r) Distribution

P(r) distribution for 8ilg
下载 Download

1. 结构基本信息 1. Structure Basics

条目编号 entry_id8ilg
沉积日期 deposition_date2023-03-03
结构标题 titleThe crystal structure of dG-DNA:Pol X product binary complex
关键词 keywordsDNA polymerase, substrate complex, selenium-modified dNTP, configuration, REPLICATION-DNA complex; REPLICATION/DNA
实验方法 methodX-RAY DIFFRACTION

2. SAXS 参数 (CRYSOL 理论计算) 2. SAXS Parameters (CRYSOL)

回转半径 Rg (Guinier) rg_guinier25.35
回转半径 Rg (电子) rg_electron24.71
零角强度 I(0) i045952200.00
分子量 molecular_weight49885.0 kDa
排除体积 excluded_volume61429 ų
包络体积 envelope_volume76770 ų
水化壳体积 shell_volume26288 ų
包络直径 envelope_diameter83.9
壳层 Rg shell_rg31.56
包络 Rg envelope_rg24.54
形状 Rg shape_rg24.68
总 Rg total_rg25.54
总原子数 total_atoms3477
残基数 n_residues385
球谐函数阶数 n_harmonics20
q 范围 q_range— – 0.5000 −1
数据点数 n_points101
壳层类型 shell_typedirectional
溶剂电子密度 solvent_density0.3340 e/ų
壳层衬度 contrast_shell0.0300 e/ų
CRYSOL 版本 crysol_version4.1.3

3. P(r) 距离分布 (GNOM 反演) 3. P(r) Analysis (GNOM)

最大尺寸 Dmax dmax81.8
Rg (实空间) rg_real25.32
Rg 误差 (实空间) rg_real_error0.48
I(0) (实空间) i0_real4.5950e+07
I(0) 误差 (实空间) i0_real_error6.0770e+05
Rg (倒空间) rg_reciprocal25.33
I(0) (倒空间) i0_reciprocal45950000.0000
解质量估计 total_estimate0.7272
解质量评级 solution_quality REASONABLE a REASONABLE solution
P(r) 峰数 n_peaks2
主峰位置 r_peak_primary31.1
偏度 Skewness skewness0.288
峰度 Kurtosis kurtosis-0.449
角度范围 angular_range— – 0.3150 −1
当前正则化参数 α current_alpha0.0000
最高正则化参数 α highest_alpha4465000.0000
实空间数据点数 n_real_points64
GNOM 版本 gnom_version4.1.3
质量判据 quality_criteria AN1: 0.000; Oscil: 0.916; Stabil: 1.000; Sysdev: 0.242; Positv: 1.000; Valcen: 0.983; Smooth: 0.993

4. 晶体学与实验 4. Crystallography & Experiment

5. 实体与聚合体信息 (5)

7. 引用文献 (1)

8. 文件与曲线 (10)