8ilh

The crystal structure of dG(Se-Sp)-DNA:Pol X product binary complex

Method: X-RAY DIFFRACTION Dmax: 108.5 Å Quality: GOOD

SAXS 散射曲线 SAXS Profile

SAXS profile for 8ilh

P(r) 距离分布 P(r) Distribution

P(r) distribution for 8ilh
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1. 结构基本信息 1. Structure Basics

条目编号 entry_id8ilh
沉积日期 deposition_date2023-03-03
结构标题 titleThe crystal structure of dG(Se-Sp)-DNA:Pol X product binary complex
关键词 keywordsDNA polymerase, substrate complex, selenium-modified dNTP, configuration, REPLICATION/DNA, REPLICATION-DNA complex; REPLICATION/DNA
实验方法 methodX-RAY DIFFRACTION

2. SAXS 参数 (CRYSOL 理论计算) 2. SAXS Parameters (CRYSOL)

回转半径 Rg (Guinier) rg_guinier32.01
回转半径 Rg (电子) rg_electron32.26
零角强度 I(0) i0133724000.00
分子量 molecular_weight91802.0 kDa
排除体积 excluded_volume115050 ų
包络体积 envelope_volume152790 ų
水化壳体积 shell_volume40729 ų
包络直径 envelope_diameter113.3
壳层 Rg shell_rg38.14
包络 Rg envelope_rg31.75
形状 Rg shape_rg32.26
总 Rg total_rg32.76
总原子数 total_atoms6401
残基数 n_residues733
球谐函数阶数 n_harmonics20
q 范围 q_range— – 0.5000 −1
数据点数 n_points101
壳层类型 shell_typedirectional
溶剂电子密度 solvent_density0.3340 e/ų
壳层衬度 contrast_shell0.0300 e/ų
CRYSOL 版本 crysol_version4.1.3

3. P(r) 距离分布 (GNOM 反演) 3. P(r) Analysis (GNOM)

最大尺寸 Dmax dmax108.5
Rg (实空间) rg_real32.09
Rg 误差 (实空间) rg_real_error0.89
I(0) (实空间) i0_real1.3370e+08
I(0) 误差 (实空间) i0_real_error2.2780e+06
Rg (倒空间) rg_reciprocal32.06
I(0) (倒空间) i0_reciprocal133700000.0000
解质量估计 total_estimate0.8764
解质量评级 solution_quality GOOD a GOOD solution
P(r) 峰数 n_peaks1
主峰位置 r_peak_primary37.6
偏度 Skewness skewness0.418
峰度 Kurtosis kurtosis-0.248
角度范围 angular_range— – 0.2450 −1
当前正则化参数 α current_alpha0.0002
最高正则化参数 α highest_alpha17820000.0000
实空间数据点数 n_real_points50
GNOM 版本 gnom_version4.1.3
质量判据 quality_criteria AN1: 0.000; Oscil: 0.838; Stabil: 1.000; Sysdev: 1.000; Positv: 1.000; Valcen: 0.977; Smooth: 0.899

4. 晶体学与实验 4. Crystallography & Experiment

5. 实体与聚合体信息 (7)

7. 引用文献 (1)

8. 文件与曲线 (10)