8uis

Structure of transcription complex Pol II-DSIF-NELF-TFIIS

Method: ELECTRON MICROSCOPY Dmax: 183.7 Å Quality: GOOD

SAXS 散射曲线 SAXS Profile

SAXS profile for 8uis

P(r) 距离分布 P(r) Distribution

P(r) distribution for 8uis
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1. 结构基本信息 1. Structure Basics

条目编号 entry_id8uis
沉积日期 deposition_date2023-10-10
结构标题 titleStructure of transcription complex Pol II-DSIF-NELF-TFIIS
关键词 keywordsNucleic acids, transcription, RNA polymerase II, NELF, DSIF, pausing, TRANSCRIPTION-RNA-DNA complex; TRANSCRIPTION/RNA/DNA
实验方法 methodELECTRON MICROSCOPY

2. SAXS 参数 (CRYSOL 理论计算) 2. SAXS Parameters (CRYSOL)

回转半径 Rg (Guinier) rg_guinier56.01
回转半径 Rg (电子) rg_electron55.83
零角强度 I(0) i04950980000.00
分子量 molecular_weight575100.0 kDa
排除体积 excluded_volume713070 ų
包络体积 envelope_volume1025500 ų
水化壳体积 shell_volume145900 ų
包络直径 envelope_diameter192.4
壳层 Rg shell_rg63.63
包络 Rg envelope_rg55.28
形状 Rg shape_rg55.84
总 Rg total_rg55.97
总原子数 total_atoms79960
残基数 n_residues4922
球谐函数阶数 n_harmonics20
q 范围 q_range— – 0.5000 −1
数据点数 n_points101
壳层类型 shell_typedirectional
溶剂电子密度 solvent_density0.3340 e/ų
壳层衬度 contrast_shell0.0300 e/ų
CRYSOL 版本 crysol_version4.1.3

3. P(r) 距离分布 (GNOM 反演) 3. P(r) Analysis (GNOM)

最大尺寸 Dmax dmax183.7
Rg (实空间) rg_real55.81
Rg 误差 (实空间) rg_real_error1.17
I(0) (实空间) i0_real4.9510e+09
I(0) 误差 (实空间) i0_real_error1.0590e+08
Rg (倒空间) rg_reciprocal56.16
I(0) (倒空间) i0_reciprocal4953000000.0000
解质量估计 total_estimate0.8675
解质量评级 solution_quality GOOD a GOOD solution
P(r) 峰数 n_peaks1
主峰位置 r_peak_primary72.2
偏度 Skewness skewness0.252
峰度 Kurtosis kurtosis-0.323
角度范围 angular_range— – 0.1400 −1
当前正则化参数 α current_alpha0.0001
最高正则化参数 α highest_alpha823600000.0000
实空间数据点数 n_real_points29
GNOM 版本 gnom_version4.1.3
质量判据 quality_criteria AN1: 0.000; Oscil: 0.847; Stabil: 1.000; Sysdev: 1.000; Positv: 1.000; Valcen: 0.969; Smooth: 0.764

4. 晶体学与实验 4. Crystallography & Experiment

5. 实体与聚合体信息 (21)

7. 引用文献 (1)

8. 文件与曲线 (10)