8ghl

the Hir complex core

Method: ELECTRON MICROSCOPY Dmax: 229.0 Å Quality: GOOD

SAXS 散射曲线 SAXS Profile

SAXS profile for 8ghl

P(r) 距离分布 P(r) Distribution

P(r) distribution for 8ghl
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1. 结构基本信息 1. Structure Basics

条目编号 entry_id8ghl
沉积日期 deposition_date2023-03-10
结构标题 titlethe Hir complex core
关键词 keywordsHistone, Complex, Replication-Independent, CHAPERONE; CHAPERONE
实验方法 methodELECTRON MICROSCOPY

2. SAXS 参数 (CRYSOL 理论计算) 2. SAXS Parameters (CRYSOL)

回转半径 Rg (Guinier) rg_guinier65.61
回转半径 Rg (电子) rg_electron66.75
零角强度 I(0) i02518190000.00
分子量 molecular_weight435120.0 kDa
排除体积 excluded_volume549590 ų
包络体积 envelope_volume844480 ų
水化壳体积 shell_volume109970 ų
包络直径 envelope_diameter252.8
壳层 Rg shell_rg62.85
包络 Rg envelope_rg66.98
形状 Rg shape_rg66.83
总 Rg total_rg66.38
总原子数 total_atoms30648
残基数 n_residues3780
球谐函数阶数 n_harmonics20
q 范围 q_range— – 0.5000 −1
数据点数 n_points101
壳层类型 shell_typedirectional
溶剂电子密度 solvent_density0.3340 e/ų
壳层衬度 contrast_shell0.0300 e/ų
CRYSOL 版本 crysol_version4.1.3

3. P(r) 距离分布 (GNOM 反演) 3. P(r) Analysis (GNOM)

最大尺寸 Dmax dmax229.0
Rg (实空间) rg_real66.39
Rg 误差 (实空间) rg_real_error2.12
I(0) (实空间) i0_real2.5150e+09
I(0) 误差 (实空间) i0_real_error5.6650e+07
Rg (倒空间) rg_reciprocal64.76
I(0) (倒空间) i0_reciprocal2510000000.0000
解质量估计 total_estimate0.8497
解质量评级 solution_quality GOOD a GOOD solution
P(r) 峰数 n_peaks2
主峰位置 r_peak_primary76.3
偏度 Skewness skewness0.678
峰度 Kurtosis kurtosis0.215
角度范围 angular_range— – 0.1200 −1
当前正则化参数 α current_alpha0.0125
最高正则化参数 α highest_alpha121200000.0000
实空间数据点数 n_real_points25
GNOM 版本 gnom_version4.1.3
质量判据 quality_criteria AN1: 0.000; Oscil: 0.745; Stabil: 0.999; Sysdev: 1.000; Positv: 1.000; Valcen: 0.976; Smooth: 0.832

4. 晶体学与实验 4. Crystallography & Experiment

5. 实体与聚合体信息 (3)

7. 引用文献 (1)

8. 文件与曲线 (10)